在这个由两部分组成的系列文章的第一篇文章中,我们介绍了电磁兼容性 (EMC) 测试和标准的必要性。由于不可能同时测试世界上所有的设备,因此定义了测试所有进入市场的系统的标准化方法。第一篇文章谈到了传导 EMC 的...
“消声”一词的意思是“没有回声”。消声室指的是设计为墙壁、天花板和地板的波反射最小的房间。电子工程师使用电波暗室进行电磁兼容性 (EMC)或电磁干扰 (EMI)和射频测试。这些腔室的内壁经过特殊材料处理,可以吸收...
分类:电子测量 时间:2023-04-19 阅读:379 关键词:电磁,射频测试
在一个试点项目中,Comemso 和德州仪器 (TI) 演示了如何使用 comemso BMS 测试系统完全创建和评估基于德州仪器开发平台的电池管理系统 (BMS)。新的图形界面使开发人员能够操作从单一角度审视 TI 电动汽车 (EV) BMS ...
新型 MPLAB 碳化硅功率仿真器使客户能够在设计阶段测试 Microchip 的碳化硅功率解决方案
电力电子产品在日常生活的许多领域都在市场上迅速扩张。由于这种材料在速度、效率和耐高温性方面的出色性能,越来越多的电力电子设备使用SiC 半导体制造。电源设计人员大量...
DSP 技巧:A/D 转换器测试技术和查找 ADC 中的缺失代码
数字信号处理技术通常可用于测试 A/D 转换器。这里有两种测量转换器性能的方案;第一种是使用快速傅立叶变换 (FFT) 来估计整个转换器噪声的技术,第二种是检测丢失的转换器...
时间:2023-03-31 阅读:482 关键词:A/D 转换器
JTAG 在整个嵌入式系统开发生命周期中的系统调试和测试中的作用
随着摩尔定律的每一次转变,设计人员在开发过程的每个阶段都面临着新的复杂程度的挑战。芯片设计师不仅要在第一块硅片上获得正确的集成电路( IC) 逻辑、性能、功率和产量。...
分类:嵌入式系统/ARM技术 时间:2023-03-31 阅读:9513 关键词:电子
将受控振荡器所需的频率调谐范围分成离散频带是一种常用技术。拥有多个频段的优势在于可以覆盖较宽的调谐范围,同时在每个频段内保持相对较低的压控振荡器 (VCO) 增益。低 VCO 增益有利于实现低 VCO 相位噪声。要求...
图示了一个数字可编程的精密电阻,该电阻可在定制设计的ATE(自动测试设备)中用作微处理器驱动的电源负载。一个8位电流输出DAC、IC1 ,DAC08,驱动电流-电压转换器IC2一 ,进而驱动功率MOSFET Q的栅极1 .被测器件连...
R&S - 嵌入式世界2023,罗德与施瓦茨展示先进嵌入式系统测试解决方案
无论是在消费电子、电信、工业、医疗、汽车还是航空航天领域,嵌入式系统都是当今电子设备的核心。无瑕疵的操作至关重要,工程师在设计越来越紧凑的嵌入式系统时面临着复杂...
分类:嵌入式系统/ARM技术 时间:2023-03-25 阅读:913 关键词:嵌入式系统测试
在用于汽车 SoC 的纳米技术中,硅上的大多数缺陷都是由于时序问题造成的。因此,汽车设计中的全速覆盖要求非常严格。为了满足这些要求,工程师们付出了很多努力来获得更高的实速覆盖率。主要挑战是以尽可能低的成本...
随着行业转向采用MIPI 联盟的 M-PHY 标准,设计人员正面临一些与示波器测量相关的重大挑战,更具体地说,是探测。这些挑战包括严格的要求,例如总线端接和输入回波损耗,以及需要最大限度地减少被测设备 (DUT) 上的...
分类:电子测量 时间:2023-03-14 阅读:420 关键词:MIPI M-PHY
碳化硅(SiC) 器件的测试通常涉及不同的电路板和设置,用于开关损耗测量与全功率测试。在这些测量中的每一个中,都必须仔细考虑连接栅极驱动器、PWM 控制器、最小化功率和栅极环路电感以及创建不会严重影响测量本身的...
变异测试评估测试用例的质量。它重新执行已经通过的测试用例,但在更改的测试对象上,并揭示测试用例是否检测到测试对象中的更改。安全关键系统的开发标准(例如 IEC 61508)建议进行突变测试。在实践中,测试执行和...
几年前,我需要一个快速、低频但失真极低的源来测试板载微控制器 ADC,看它是否具有数据表中所说的有效位数 (ENOB) 和线性度。 我知道 Linear Technology [1] 的失真度...
为了提供下一代卫星应用,航天器越来越多地使用相控阵来组合多个单独的天线元件,以提高整体性能、增加增益、消除干扰并控制阵列,使其在特定方向上最灵敏。这允许运营商更...
什么是模型在环测试? 在 MIL 级别上测试嵌入式系统意味着在建模框架中模拟(解释)模型及其环境,而无需任何物理硬件组件。这允许在开发周期的早期阶段进行测试。 ...
如果您的电路设计要求容忍某些故障并报告它们的发生,您将需要在测试和启动过程中测试设计的故障检测和保护功能。为了简化此测试,请考虑在原型印刷电路板中构建故障注入装...