测试与检查 Test/Inspection

测试与检查 Test/Inspection假设选择三种不同复杂程度的板：低、中与高。低复杂性的板(LCB, Low-complexity board)特征是，50个元件，350个焊点和50~100个电气节点，并且是一个简单电路，如，可编程自动调温器、玩具...

分类：电子测量 时间：2007-04-29 阅读：2065 关键词：测试与检查 Test/Inspection400030002500100035002000017500

80nm应用中的高数位孔径，双载具93nm TWINSCAN 扫描分步投影机

程天风（ASML 阿斯麦光刻设备有限公司）摘要：针对次100nm的生产,ASML 研发了一个新光刻系统,其中克服了许多底k1解晰度的挑战。其中包含0.85NA双载具193nm TWINSCAN的设计、性能与一些初步的量测数据。80nm的生产必...

分类：其它 时间：2007-04-29 阅读：3040 关键词：80nm应用中的高数位孔径，双载具93nm TWINSCAN 扫描分步投影机2002200320042006

instantiating the lpm_ram_dq component

librarylpm;uselpm.lpm_components.all;libraryieee;useieee.std_logic_1164.all;entitylpm_instisport(clock,we:instd_logic;data:i

分类：其它 时间：2007-04-29 阅读：1846 关键词：instantiating the lpm_ram_dq component

采用LabVIEW和National Instruments DAQ 开发的低成本多功能测试...

来源:零八我的爱

分类：其它 时间：2007-04-29 阅读：1091 关键词：采用LabVIEW和National Instruments DAQ 开发的低成本多功能测试...

TLC5510INSR的技术参数

产品型号:TLC5510INSR工作电压(V):5位数:8速率(MSPS):20输入通道:1模拟输入带宽(MHz):14DNL最大值(±LSB):0.500INL最大值(±LSB):0.750信噪比(dB):46功耗(mW):90封装/温度(℃):

分类：其它 时间：2007-04-18 阅读：1701 关键词：TLC5510INSR