IC外观检测,元器件外观检测常见要求
出处:维库电子市场网 发布于:2012-07-05 16:54:25
IC外观检测常见要求:
关键点:丝印、主体、管脚
丝印要求:清晰、完整、正确、位置统一、字体规则、logo规范、模号及产地凹印、PIN1明显
主体要求:尺寸规范、裂痕、残缺、刮伤、溢胶、变形、漏底材等符合标准
管脚要求:变形、漏铜、多锡、缺失、尺寸异常、变色等
AAA电子元件测试中心的服务:
外观检测( External Visual Inspection)
外观测试是指确认收到的芯片数量,内包装,湿度指示,干燥剂要求和适当的外包装。其次对单个芯片进行外观检测,主要包括:芯片的打字,年份,原产国,是否重新涂层,管脚的状态,是否有重新打磨痕迹,不明残留物,厂家logo的位置。
加热化学测试(Heated Chemical Test)
HCT是指将芯片放入特殊的化学试剂加热到一定的温度,这个测试揭发元件表面是否有磨痕,裂痕,缺口,是否有重新涂层,打字。
包装与物流(Packaging and Logistics)
测试服务的终步骤是包装和发货,我们对这个环节的重视不亚于其它的测试项目,我们认识到将元件及时安全地运回给客户的重要性, 提供完整的包装和运输服务,协助您将货物输往你指定目的地。
编程 (Programming)
我们利用能支持检测来自208个IC 生产厂商生产的47000种IC型号的编程设备。提供包括: EPROM,并行和串行EEPROM,FPGA,配置串行PROM,闪存,BPROM,NOVRAM,SPLD,CPLD,EPLD,,MCU和标准的逻辑器件的检测。
X-Ray 检测
X-ray测试是实时非破坏性分析以检查元件内部的硬件组件,主要检查芯片的引脚框架,晶圆尺寸,金线绑定图,ESD的损坏和孔洞,客户可提供可用的样品或是前期采购的余下品进行对比检查。
烘烤和真空包装(Baking and Dry Packing)
我们的服务还包含了以J-STD-033B.1.为标准的烘烤和真空包装,这个服务能使芯片避免潮湿侵害,控制焊料再回流的温度,使芯片保持可用性和可靠性。
功能和温度测试(Electrical and Temperature Testing)
我们提供广泛的芯片功能测试,从基本的参数到依据Mil STD 883确认芯片功能,AAA 测试中心更于复杂芯片如FPGA, CPLD and PLA的测试。
可焊性测试(Soderabilty Test)
可焊性测试的测试标准是J-STD-002B,这个测试主要检测芯片管脚的上锡能力是否达标。
开盖测试 (Decapsulation)
开盖(解封)主要是利用仪器将芯片表面的封装腐蚀,检查内部是否存在晶圆,晶圆的大小,厂家的标志,版权年份,晶圆代码,能确定芯片的真实性。
公司地址:深圳市福田区振华路兰光大厦A座1003室
在线QQ: 1442349753
邮箱:sales@aaactl.com
咨询热线:0755-8255-0201
更多AAA电子元器件测试中心信息,敬请点击查看://tgdrjb.cn/zuanti/aaa/
版权与免责声明
凡本网注明“出处:维库电子市场网”的所有作品,版权均属于维库电子市场网,转载请必须注明维库电子市场网,//tgdrjb.cn,违反者本网将追究相关法律责任。
本网转载并注明自其它出处的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品出处,并自负版权等法律责任。
如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
- 一文读懂TTL电路的基本结构、工作原理和特性2020/9/8 11:29:48
- 如何通过R10电位器线性改变VRF的电压值2020/7/15 15:09:26
- 一种集成电路开短路测试方案详解2023/6/21 15:50:05
- FPGA基本知识介绍2018/4/21 14:34:50
- 一文解析FPGA的片上资源使用情况(组合逻辑及时序逻辑)2018/4/18 15:36:03